The QDm.1: find electrical faults without destroying the chip.
QDM.1は、回路内の電気的活動を画像化し、短絡故障とオープン障害を非破壊で切り分けるための強力なツールです。
Already running in the labs that matter
Our tool is installed and operational at our headquarters in Munich as well as leading FA labs, including EAG Laboratories in San Jose and Integrated Service Technology (iST) in Hsinchu, Taiwan.
故障解析エンジニア向けに設計されたネイティブQDソフトウェア。
当社独自のソフトウェアインターフェースにより、半導体故障解析および計測チーム向けに設計された直感的で強力なUXにより、高度な量子センシングをすぐに利用できます。
自動キャリブレーションと直感的な制御
シームレスなナビゲーション、柔軟な制御、スマートなセルフキャリブレーションにより、あらゆるレベルのユーザーが直感的に測定できます。
インタラクティブなデータとアノテーション
すべてのデータコンポーネントに同時にアクセスするか、
オーバーレイビジュアライゼーション
ホットスポットデータだけでなく、光学画像や赤外線画像などのさまざまな隣接データに分析データを重ね合わせます。
大面積ステッチ
5 cm x 5 cmの移動範囲で、サンプルを交換せずに大きな画像をつなぎ合わせることができます。
電流密度再構成
Machine Learning で強化された 3D インタラクティブビジュアライゼーションと断面図を使用して、磁場データを電気活動に変換し、より深く実用的な洞察を得ることができます。
正確な障害検出
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インラボ
Commercially available, reach out for more information
研究開発や故障解析のためのシングルチップレベルでの欠陥の高分解能かつ非破壊的な位置特定を行います。
インライン
リアルタイムのプロセス制御のための自動ウェーハマッピング
生産プロセスのリアルタイム監視と最適化のためのハイスループットウェーハマッピング
Your sample. Your workflow. Experience QDm.1 first-hand
回路内の電気的活動を画像化し、短絡故障とオープン故障を非破壊で分離するための強力なツールであるQDM.1を購入してください。または、当社の限定デモプログラムに今すぐ参加して、お客様の施設でシステムが実際に動作している様子をご覧ください。