The QDm.1: find electrical faults without destroying the chip.
QDM.1은 회로의 전기적 활동을 이미징하여 단락 및 개방 장애를 비파괴적으로 분리하는 강력한 도구입니다.
Already running in the labs that matter
Our tool is installed and operational at our headquarters in Munich as well as leading FA labs, including EAG Laboratories in San Jose and Integrated Service Technology (iST) in Hsinchu, Taiwan.
장애 분석 엔지니어를 위해 설계된 네이티브 QD 소프트웨어.
당사의 고유한 소프트웨어 인터페이스는 반도체 고장 분석 및 계측 팀을 위해 설계된 직관적이고 강력한 UX를 통해 고급 양자 감지를 손쉽게 이용할 수 있습니다.
자동 캘리브레이션 및 직관적인 제어
모든 수준의 사용자를 위한 원활한 탐색, 유연한 제어, 스마트한 자체 캘리브레이션을 통한 직관적인 측정.
대화형 데이터 및 주석
모든 데이터 구성 요소에 동시에 액세스하거나
오버레이 시각화
광학 및 적외선 이미지, 핫스팟 데이터 등 다양한 인접 데이터에 분석 데이터를 중첩합니다.
넓은 면적의 스티칭
5cm x 5cm의 이동 범위로 샘플 교체 없이 더 큰 이미지를 스티칭할 수 있습니다.
전류 밀도 재구성
머신 러닝의 향상된 3D 대화형 시각화 및 횡단면 뷰를 통해 자기장 데이터를 전기 활동으로 변환하여 심층적이고 실행 가능한 통찰력을 얻을 수 있습니다.
정밀한 결함 감지
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인-랩
Commercially available, reach out for more information
R&D 및 고장 분석을 위해 단일 칩 수준에서 고해상도의 비파괴 결함 위치 파악
인-라인
실시간 공정 제어를 위한 자동 웨이퍼 매핑
생산 공정의 실시간 모니터링 및 최적화를 위한 고처리량 웨이퍼 매핑.
Your sample. Your workflow. Experience QDm.1 first-hand
회로의 전기적 활동을 이미징하고 단락 장애와 미해결 장애를 비파괴적으로 분리하는 데 사용할 수 있는 강력한 도구인 QDM.1을 구입하십시오.또는 지금 바로 당사의 독점 데모 프로그램에 참여하여 해당 시설에서 시스템이 실제로 작동하는지 확인해 보십시오.